Microscopia eletrônica de varredura (MEV)

MEV Jeol IT300LV

Microscópio eletrônico de varredura JEOL JSM IT300LV

  • Feixe eletrônico por filamento de tungstênio
  • Operação em alto e baixo vácuo
  • Detector Oxford EDS de grande área (80 mm2)
  • Mapa de composição e liberação mineral
Exemplo JSM IT300LV Exemplo JSM IT300LV
Espectro EDS Exemplo JSM IT300LV
Secção de caule Mapa composicional Espectro EDS FContraste composicional - minerais
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