Microscopia eletrônica de varredura (MEV)

MEV Jeol IT300LV

Microscópio eletrônico de varredura JEOL JSM IT300LV

  • Feixe eletrônico por filamento de tungstênio
  • Operação em alto e baixo vácuo
  • Detector Oxford EDS de grande área (80 mm2)
  • Mapa de composição e liberação mineral