Microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (MEV-FEG)

MEV-FEG Jeol 7100F

Microscópio eletrônico de varredura de alta resolução JEOL JSM 7100F

  • Feixe eletrônico por emissão de campo (FEG)
  • Resolução de 1,2 nm a 30kV e 2,0 nm a 1.0kV
  • Diferentes configurações de detectores de elétrons secundários e retroespalhados
  • Detectores Oxford EDS e WDS
  • Detector STEM
Exemplo JSM 7100F Exemplo JSM 7100F
Exemplo JSM 7100F Exemplo JSM 7100F
Nanopartículas Nanotubos de carbono Espectro EDS Nanopartículas (STEM)
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