Microscopia eletrônica de varredura de alta resolução (MEV-FEG-FIB)

Amber-X

Microscópio eletrônico de varredura Tescan Amber-X

  • MEV - FEG de alta resolução com sistemas de detecção de elétrons secundários, retroespalhados e transmissão (STEM)
  • Resolução de 1,2 nm a 30kV e 2,0 nm a 1.0kV
  • FIB de Xenônio permitindo remoção de volumes de até 1 mm3 com possibilidade de tomografia multimodal (imagens, MS e EDS)
  • TOF-SIMS de alta resolução e faixa de massas até 500 u.m.a.
  • Catodoluminescência hiperespectral e mapa de intensidade faixa espectral de 200-1000nm
  • Sistema de EDS com detector de 100 mm2 com software de imageamento de grandes áreas
Exemplo - Tescan Amber-X Exemplo - Tescan Amber-X
Exemplo - Tescan Amber-X Exemplo - Tescan Amber-X
Nanopartículas metálicas sobre vidro Imagem de catodoluminescência Mapa composicional
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