Microscopia eletrônica de varredura (MEV)

Jeol JSM-IT300/LV

Microscópio eletrônico de varredura JEOL JSM IT300LV

Feixe eletrônico por filamento de tungstênio
Operação em alto e baixo vácuo
Detector Oxford EDS de grande área (80 mm²)
Mapa de composição e liberação mineral

Micrografia - vegetal

Mapa composicional

Espectro EDS

Micrografia - fármaco

Listar Todas Voltar