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Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL JSM 7100F (FEG)

Atualizado em 14/09/17 09:14.

 

Feixe Eletrônico por Emissão de Campo (FEG)

Resolução  1,2 nm a 30kV, 2,0 nm a 1.0kV

Diferentes Configurações de Detectores de Elétrons Secundários e Retroespalhados

Detectores Oxford EDS e WDS

Detector STEM

 

Microscópio Eletrônico de Varredura de Alta Resolução JEOL JSM 7100FFeixe eletrônico por emissão de campo (FEG)Resolução  1,2 nm a 30kV, 2,0 nm a 1.0kVDiferentes configurações de detectores de elétrons secundários e retroespalhadosDetectores Oxford EDS e WDSDetector STEM