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Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL JSM IT300LV

Atualizado em 14/09/17 09:15.

 

Feixe Eletrônico por Filamento de Tungstênio

Operação em Alto e Baixo Vácuo

Detector Oxford EDS de Grande Área (80 mm)

Mapa de Composição e Liberação Mineral

 

Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL JSM IT300LVFeixe eletrônico por filamento de TungstênioOperação em alto e baixo vácuoDetector Oxford EDS de grande área (80 mm)Mapa de composição e liberação mineral